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氧化物層剝裂檢測(cè)

2025-05-26 關(guān)鍵詞:氧化物層剝裂測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),氧化物層剝裂測(cè)試案例,氧化物層剝裂測(cè)試方法 相關(guān):
氧化物層剝裂檢測(cè)

氧化物層剝裂檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.氧化層厚度測(cè)量:采用非接觸式激光測(cè)厚儀(精度0.1μm),測(cè)量范圍0.5-200μm2.界面結(jié)合強(qiáng)度測(cè)試:通過劃痕法測(cè)定臨界載荷值(LC2),加載速率5N/min3.熱震循環(huán)次數(shù):按溫度梯度300℃?25℃進(jìn)行循環(huán)測(cè)試(ASTMC884標(biāo)準(zhǔn))4.表面粗糙度分析:使用白光干涉儀測(cè)量Ra值(分辨率0.01nm)5.元素?cái)U(kuò)散深度:通過EDS線掃描測(cè)定O元素濃度梯度(步長(zhǎng)50nm)檢測(cè)范圍1.高溫合金部件:鎳基/鈷基渦輪葉片氧化鋁熱障涂層2.金屬基復(fù)合材料:碳化硅顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料表面氧化膜3.半導(dǎo)

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.氧化層厚度測(cè)量:采用非接觸式激光測(cè)厚儀(精度0.1μm),測(cè)量范圍0.5-200μm
2.界面結(jié)合強(qiáng)度測(cè)試:通過劃痕法測(cè)定臨界載荷值(LC2),加載速率5N/min
3.熱震循環(huán)次數(shù):按溫度梯度300℃?25℃進(jìn)行循環(huán)測(cè)試(ASTMC884標(biāo)準(zhǔn))
4.表面粗糙度分析:使用白光干涉儀測(cè)量Ra值(分辨率0.01nm)
5.元素?cái)U(kuò)散深度:通過EDS線掃描測(cè)定O元素濃度梯度(步長(zhǎng)50nm)

檢測(cè)范圍

1.高溫合金部件:鎳基/鈷基渦輪葉片氧化鋁熱障涂層
2.金屬基復(fù)合材料:碳化硅顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料表面氧化膜
3.半導(dǎo)體封裝材料:銅引線框架表面CuO鈍化層
4.核反應(yīng)堆構(gòu)件:鋯合金包殼管ZrO?腐蝕層
5.文物保護(hù)金屬:青銅器表面堿式氯化銅腐蝕產(chǎn)物層

檢測(cè)方法

1.ASTMD3359-17:膠帶法附著力測(cè)試(MethodB交叉劃痕法)
2.ISO20502:2016:陶瓷涂層界面斷裂韌性測(cè)定(四點(diǎn)彎曲法)
3.GB/T1771-2007:鹽霧試驗(yàn)箱模擬海洋大氣腐蝕(NaCl濃度5%)
4.ASTMC633-13:熱噴涂涂層結(jié)合強(qiáng)度拉伸測(cè)試(環(huán)氧樹脂粘接法)
5.GB/T30756-2014:X射線衍射法定量分析氧化相組成(θ-2θ掃描模式)

檢測(cè)設(shè)備

1.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡:配備BrukerQuantaxEDS系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)納米級(jí)斷面形貌觀測(cè)
2.CSMInstrumentsRevetest劃痕儀:最大載荷200N,聲發(fā)射信號(hào)同步采集
3.NetzschDIL402C熱膨脹儀:溫度范圍-150℃~1550℃,測(cè)定氧化層CTE失配度
4.BrukerD8AdvanceXRD:Cu靶Kα輻射(λ=0.15406nm),步進(jìn)角0.02
5.Q-LabQ-FOGCRH鹽霧箱:循環(huán)腐蝕模式(濕度30-98%RH可調(diào))
6.ZwickZ050萬能試驗(yàn)機(jī):50kN載荷傳感器(符合ISO7500-1標(biāo)準(zhǔn))
7.KeyenceVK-X3000激光共聚焦顯微鏡:408nm波長(zhǎng)激光(縱向分辨率1nm)
8.ThermoScientificK-AlphaXPS:AlKα單色光源(能量分辨率<0.5eV)
9.Agilent7900ICP-MS:檢測(cè)氧化層中痕量雜質(zhì)元素(檢出限ppt級(jí))
10.Instron8802液壓疲勞試驗(yàn)機(jī):頻率范圍0.01-100Hz(動(dòng)態(tài)載荷測(cè)試)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析氧化物層剝裂檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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